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高穩定金屬膜電阻器用磁控濺射中高阻靶材及制備技術

天津大學

更新時間:2020-06-18

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所屬領域

采礦與冶金

項目類型

科學研究、技術服務和地質勘查業

項目年份

2020

項目狀態

可產業化

合作方式

技術轉讓,技術入股,合作開發

項目簡介

    成果與項目的背景及主要用途: 

    Cr-Si 中高阻膜電阻器具有精度高、噪聲低、溫度系數小、耐熱性和穩定性好等優點,在精密電子設備和混合集成電路中大量采用。對于濺射制備電阻膜來說,靶材是至關重要的,它制約著金屬膜電阻器的電阻率、精度、可靠性、電阻溫度系數(Temperature Coefficient of Resistance, TCR)等性能。電阻溫度系數

    (TCR)是金屬膜電阻器的一個重要性能技術指標之一,較大的 TCR 在溫度變化時會造成電阻值漂移,從而影響電阻器的精度和穩定性。目前國內外生產的金屬膜電阻器用高阻靶材,其性能不能滿足低 TCR(≤25ppm/℃)要求。 

    技術原理與工藝流程簡介:靶材煉制工藝如下圖所示: 

    所制備的靶材(382 mm ×128 mm ×14 mm)在濺射成電阻器薄膜后, 電阻溫度系數小(≤25 ×10-6 / ℃), 電阻值高(要求不刻槽數量級為千歐, 刻槽后數量級為兆歐)且穩定(隨時間變化小), 因此, 在本靶材研究中, 將選擇 Cr 、Si 作為高阻靶材的主體材料。由于 C r 、Si 熔點高, 原子移動性低, 因此由其所組成的薄膜穩定性高。通過在金屬 C r 中引入半導體材料 Si 來提高電阻器合金膜的阻值。 C r 是很好的吸收氣體的金屬元素, 在電阻器薄膜濺射過程中, 可通過通入微量的氧來提高薄膜的電阻率, 同時調節電阻溫度系數。 

    技術指標如下:溫度沖擊實驗后 ΔR/R ≤±0 .5 %, 過載實驗后 ΔR/R ≤±0 .5 %, 壽命實驗后ΔR/R ≤±1 .0 %,電阻溫度系數 TCR ≤±20 ×10-6 / ℃。 

    應用領域:

    1 集成電路、電子元器件合作方式及條件:具體面議 

    2 半導體微環激光器

    3 基光電集成電路

    4 無線網絡與應用:協作無線網絡

    5 移動通信—LTE 技術 

    6 海洋生物質能源技術與裝備

    7 生物質催化轉化制備生物燃料及高值化學品檢測平臺

    8 無源 RFID 定位系統

    9 海洋物聯網技術


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