平板表面質量的檢測水平影響了以手機為核心的移動產業鏈的發展，針對光學顯示平板尺寸大、劃痕小且位置不確定、要求檢測時間短的難題，本項目以檢測大尺寸顯示平板上的劃痕或微觀瑕疵為目的，旨在探索線型光源下的彩色共焦測量技術。通過本項目的研究，為產生穩定的線型光源、線型光彩色共焦技術用于平面形貌測量、快速化彩色共焦圖像處理技術等提供借鑒。本項目將光、機、電等領域的相關技術有機地結合在一起，充分發揮各自的優勢，并借助對機械結構及高精度驅動的研究，建立較完備的檢測系統及裝置，獲得較高的整體綜合性能。 項目的技術內容包括：（1）彩色共焦技術研究；（2）基于DMD的高質量線型光源控制及產生方法研究；（3）線型光彩色共焦實驗臺及快速化圖像處理方法研究；（4）DMD線型光掃描策略設計及檢測裝置的構建。
預期技術指標：（1）提出可實現大尺寸高精度快速化顯示平板表面質量檢測的方案； （2）設計和建立能實現上述檢測方案的系統及裝置，擬實現以下技術指標： ①檢測時間小于或等于15s； ②對5〃及以上尺寸顯示平板上的劃痕或瑕疵定位、并測量其深度；③檢測劃痕或瑕疵深度的測量精度優于2μm； ④友好的人機交互界面，可視化操作，智能化測量。
已申請國家專利技術包括：ZL201320526953.2 基于數字微鏡器件的跨尺度測量裝置； ZL201420223108.2 一種基于數字微鏡器件的勻光系統； CN201310378749 基于數字微鏡器件的跨尺度測量方法； CN201410161577 一種柔性表面形貌快速提取方法； CN201410183857 一種基于數字微鏡器件的勻光系統。
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